CEM3000系列國產(chǎn)鎢燈絲高分辨率臺式掃描電鏡不僅擁有強大的抗振性能和高效的工業(yè)應用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠。它的抗振設(shè)計在充滿機械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

CEM3000系列國產(chǎn)鎢燈絲高分辨率臺式掃描電鏡具有廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

產(chǎn)品功能

1）臺式電鏡緊湊的外型，CEM3000系列臺式掃描電鏡能夠不受場地尺寸制約，真正做到了最大的空間適用性，用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時CEM3000也能根據(jù)用戶需求，輕松移機，一臺機器多處開花；

2）高分辨率，能夠?qū)ξ⒊叽缣卣鬟M行觀測分析，滿足用戶的觀測需求；

3）快速抽放氣，憑借真空系統(tǒng)設(shè)計，該系列臺式電鏡縮短了用戶抽放氣的等待時間；

4）高易用性，能夠快速成像、一鍵出片，用戶使用自動調(diào)節(jié)功能，無需過多人工操作，就可得到高質(zhì)量拍攝圖片；

5）大樣品倉，CEM3000A在保證較小外型尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

6）高抗振防磁性能，全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度；

7）可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測；

8）能夠提供多種成像參數(shù)供用戶選擇，滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

9）搭配有多種探頭，能夠?qū)悠愤M行多種手段的分析。

應用領(lǐng)域

該電鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設(shè)計，最大限度避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M行觀測，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。

應用范例：

性能特色

1、緊湊外型

該系列臺式掃描電鏡整機經(jīng)過深入優(yōu)化，在結(jié)構(gòu)方面達到了尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現(xiàn)在有需要的地方。

2、自動調(diào)節(jié)

用戶可借助自動調(diào)節(jié)功能，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺式電鏡采用特殊設(shè)計的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動對電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強抗電磁干擾性能，消除場地因素對電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設(shè)計的高性能復合抗振系統(tǒng)來消除外界振動對電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像，用戶也不用擔心環(huán)境振動對電鏡產(chǎn)生的干擾。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時的倉內(nèi)真空度(倉內(nèi)真空度低可達100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個方向位移控制，自動調(diào)整及自動對焦、自動消像散等功能，可快速完成觀測位置調(diào)整及自動成像。

7、豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量等選配功能。

可根據(jù)用戶需求提供全自動軟件定制服務。

8、高精度樣品臺

該系列臺式電鏡采用全新設(shè)計的樣品臺，各自動軸均保證了動作精度和高重復性。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離，確保成像質(zhì)量。

CEM3000系列共涵蓋CEM3000A（大樣品倉型）和CEM3000B（抗振型）兩款強化機型，CEM3000A在不改變整機外觀尺寸的情況下，拓展了樣品倉尺寸，從而可對大尺寸樣品或多個常規(guī)尺寸樣品進行分析。同時，用戶也可選擇加裝有減振倉的CEM3000B，確保在縮短抽放氣時間的同時，最大限度消除環(huán)境振動對電鏡的影響，保證了高倍數(shù)成像時的圖像質(zhì)量。

部分技術(shù)指標

如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學、生命科學、納米技術(shù)、能源等多個領(lǐng)域得到了廣泛應用。我們也樂于根據(jù)客戶提出的需求，定制個性化的技術(shù)方案，配合客戶挖掘深層次的使用需求。