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W1光學(xué)3d表面輪廓儀器采用白光干涉技術(shù),結(jié)合具有優(yōu)異抗噪性能的3D重建算法,真實還原樣品的每一個細(xì)節(jié),隨意翻轉(zhuǎn)縮放,都能輕松觀察、測量樣品的任意特征。
中圖光學(xué)輪廓測量儀直觀的操作界面,讓您對操作流程一目了然,自動聚焦,助您一鍵實現(xiàn)測量過程;可視化的工作流程樹,一鍵激活的圖庫管理功能,所見即所得的分析功能,有一鍵分析功能,批量測量不用愁。
SuperViewW1光學(xué)鏡片表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計,可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測量品質(zhì)。
中圖儀器光學(xué)表面輪廓檢測儀可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,XY載物臺標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達(dá)亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um,Z向掃描電機可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達(dá)0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件。
中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達(dá)0.1nm,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
SuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計,可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測量品質(zhì)。
光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
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