NS200印刷電路板臺(tái)階高度測量儀具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。
NS系列國產(chǎn)薄膜臺(tái)階測量儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。
NS系列薄膜臺(tái)階測量儀利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺(tái)階高度來計(jì)算出膜層的厚度,此外還可以用于表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
NS200探針納米級表面測量臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。
NS系列納米級表面測量臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。
Nano Step系列晶圓探針式輪廓儀臺(tái)階儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。
中圖儀器NS系列柔性電子器件薄膜測量臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。
微觀二維形貌輪廓臺(tái)階儀工作時(shí),觸針沿被測表面輕輕滑過,由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。
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